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LEXT OLS5100 3D 激光掃描顯微鏡 OLS5100激光顯微鏡專為失效分析和材料工程研究而設計，將出色的測量精度和光學性能與智能工具相結合，使顯微鏡使用起來更加方便。它可以快速高效完成亞微米級形貌和表面粗糙度的精確測量，不僅簡化了工作流程，還能提供值得信賴的數據。

三維超景深顯微鏡系統的核心優勢在于其高分辨率和高對比度的成像能力。這使得科研工作者能夠詳細觀察樣本的表面形貌和內部結構，從而獲取更為精準的數據和信息。同時，該系統還配備了自動對焦功能，能夠快速準確地捕捉到不同深度的清晰圖像，極大地提高了觀察的效率和準確性。

按需搭建顯微分析系統是指根據用戶的實際使用需求以及實驗場景來確認顯微成像的功能以及配置，從而搭建起符合用戶研究分析的理想顯微分析系統。